杂光系数和点源透过率复合测试系统
- 申请号：CN201320523267.X
- 专利类型：实用新型
- 申请（专利权）人：中国科学院西安光学精密机械研究所
- 公开(公开)号：CN203479497U
- 公开(公开)日：2014.03.12
- 法律状态：授权
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专利详情
| 专利名称 | 杂光系数和点源透过率复合测试系统 | ||
| 申请号 | CN201320523267.X | 专利类型 | 实用新型 |
| 公开（公告）号 | CN203479497U | 公开（授权）日 | 2014.03.12 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 薛勋;赵建科;徐亮;刘峰;赛建刚;陈永权;张洁;胡丹丹;田留德;段亚轩;高斌 |
| 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
| 专利有效期 | 杂光系数和点源透过率复合测试系统 至杂光系数和点源透过率复合测试系统 | 法律状态 | 授权 |
| 说明书摘要 | 本实用新型涉及杂光系数和点源透过率复合测试系统，能够较大程度节约成本。本系统包括用于测杂光系数的第一系统以及用于测点源透过率的第二系统，第一系统与第二系统共用同一个准直反射镜。本实用新型创新式的使用了离轴反射镜机构，极大的节约了测试成本，通过光源系统、采集系统等的配合，实现了对大口径、长焦距相机光学部件杂散光抑制能力的准确、全面测试。 | ||
交易流程
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