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一种绝缘体上二维薄膜材料的制备方法

  • 申请号:CN201210252143.2
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
  • 公开(公开)号:CN103570001A
  • 公开(公开)日:2014.02.12
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种绝缘体上二维薄膜材料的制备方法
申请号 CN201210252143.2 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103570001A 公开(授权)日 2014.02.12
申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所 发明(设计)人 解婧;张阳;罗巍;李超波;夏洋
主分类号 C01B31/04(2006.01)I IPC主分类号 C01B31/04(2006.01)I
专利有效期 一种绝缘体上二维薄膜材料的制备方法 至一种绝缘体上二维薄膜材料的制备方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明涉及材料技术领域,具体涉及一种绝缘体上二维薄膜材料的制备方法。所述制备方法,包括如下步骤:(1)根据需求选择合适的绝缘衬底;(2)对绝缘衬底的表面和/或待转移至绝缘衬底的体材料的表面进行活化处理;(3)将绝缘衬底与体材料进行表面接触,施加外物理场使二维薄膜材料从体材料表面剥离下来,覆盖到绝缘衬底的表面。使用本发明制备的二维薄膜材料铺展均匀,并可避免多次转移以及中间层材料造成的缺陷以及环境污染等问题。同时,本发明与硅基器件大规模制造工艺通融,可使高性能二维薄膜材料器件的制造研发沿用大规模平面印刷工艺,工艺流程简单可控,重复性好,可用于自动化宏量生产。

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