专利详情

专利名称	测定晶内第二相在基体中分布均匀性的方法
申请号	CN201310525910.7	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103558218A	公开（授权）日	2014.02.05
申请（专利权）人	中国科学院金属研究所	发明（设计）人	李阁平;张利峰;李明远;王练;彭胜;吴松全;高博;顾恒飞;庞丽侠
主分类号	G01N21/84(2006.01)I	IPC主分类号	G01N21/84(2006.01)I
专利有效期	测定晶内第二相在基体中分布均匀性的方法至测定晶内第二相在基体中分布均匀性的方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	测定晶内第二相在基体中分布均匀性的方法，其步骤依次是：制备金相样品并进行金相观察；通过金相分析得到视场内每个第二相的几何中心坐标（X?Y），并将每一个坐标值保存到文本文件中；进行第二相均匀性测定：测定视场内所有第二相颗粒在二维平面内的平均最近邻、次最近邻的定义间距和对应标准偏差σt，并将平均最近邻、次最近邻的定义间距和对应标准偏差σt随试样位置变化绘成曲线图，通过曲线图直观反映第二相均匀性情况及随试样位置的变化。本发明把基体中第二相信息与数学方法相结合，其操作简单、结果准确可靠，适用于数目较多时的数据统计。其具有较大的经济价值和社会价值。