专利详情

专利名称	一种开放光路式气体分析仪通量校正测量装置及测量方法
申请号	CN201310512524.4	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103528952A	公开（授权）日	2014.01.22
申请（专利权）人	中国科学院合肥物质科学研究院	发明（设计）人	赵欣;桂华侨;余同柱
主分类号	G01N21/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01N21/00(2006.01)I
专利有效期	一种开放光路式气体分析仪通量校正测量装置及测量方法至一种开放光路式气体分析仪通量校正测量装置及测量方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种开放光路式气体分析仪通量校正测量装置及方法，包括：温度探测器，用于探测气体测量仪表面温度；帕尔贴制冷元件，与光路底部外壳相接触，用于调整仪器外壳温度；装有红外滤光片的码盘，所述码盘周长边沿刻有等间距排列的狭缝，所述码盘在测量气体的转动过程中，通过狭缝产生斩波信号，用于同步触发A/D模块采集温度探测器上的信号；基于DSP和CPLD的温控电路，根据所述码盘转动的同步信号，采集所述温度探测器的温度数据，产生脉宽调制信号（PMW）驱动帕尔贴元件制冷；同时根据所述温度数据进行运算处理，产生WPL通量校准项，对通量进行实时校准。本发明通过实时温差数据计算出WPL通量校准项，可进一步提高气体分析仪的测量精度和稳定性。