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制备六棱柱纳米微腔中的量子点单光子源的方法

  • 申请号:CN201310503124.7
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
  • 公开(公开)号:CN103531679A
  • 公开(公开)日:2014.01.22
  • 法律状态:实质审查的生效
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专利详情

专利名称 制备六棱柱纳米微腔中的量子点单光子源的方法
申请号 CN201310503124.7 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103531679A 公开(授权)日 2014.01.22
申请(专利权)人 中国科学院半导体研究所 发明(设计)人 喻颖;査国伟;徐建星;尚向军;李密锋;倪海桥;贺振宏;牛智川
主分类号 H01L33/04(2010.01)I IPC主分类号 H01L33/04(2010.01)I;H01L33/00(2010.01)I;H01L33/14(2010.01)I;B82Y10/00(2011.01)I;B82Y40/00(2011.01)I
专利有效期 制备六棱柱纳米微腔中的量子点单光子源的方法 至制备六棱柱纳米微腔中的量子点单光子源的方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 一种制备六棱柱纳米微腔中的量子点单光子源的方法,包括如下步骤:步骤1:取一半导体衬底,在该半导体衬底上生长二氧化硅层,该二氧化硅层上含有氧化孔洞;步骤2:对生长有二氧化硅层的半导体衬底进行清洗;步骤3:采用自催化的方法,在二氧化硅层上生长GaAs纳米线,该GaAs纳米线的顶端形成一Ga液滴;步骤4:采用高As压处理消耗GaAs纳米线顶端的Ga液滴,抑制GaAs纳米线的轴向VLS生长,形成六棱柱状结构;步骤5:在六棱柱状结构的侧壁淀积第一AlGaAs势垒层,在AlGaAs势垒层的表面低速淀积GaAs量子点;步骤6:在GaAs量子点上覆盖第二AlGaAs势垒层;步骤7:在第二AlGaAs势垒层的表面生长GaAs保护层,完成制备。

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