一种荧光设备用于铜离子定量检测的比色分析方法
- 申请号:CN201210222091.4
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院大连化学物理研究所
- 公开(公开)号:CN103512872A
- 公开(公开)日:2014.01.15
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种荧光设备用于铜离子定量检测的比色分析方法 | ||
| 申请号 | CN201210222091.4 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN103512872A | 公开(授权)日 | 2014.01.15 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 发明(设计)人 | 冯亮;关亚风;李慧;吕永军;李笑 |
| 主分类号 | G01N21/64(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/64(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种荧光设备用于铜离子定量检测的比色分析方法 至一种荧光设备用于铜离子定量检测的比色分析方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明涉及荧光比色分析,是一种荧光设备用于铜离子定量检测的比色分析方法:铜离子溶液与实验室合成的罗丹明荧光指示剂反应能够使其荧光增强,采用自制的荧光比色设备,通过365nm特定波长的光对指示剂进行激发。用电子成像设备,如扫描仪、数码相机等捕捉铜离子加入前后指示剂的荧光颜色变化。提取其颜色变化前后图像中红、绿、蓝(RGB)三个通道的颜色变化值,构建铜离子与之相对应浓度梯度的标准曲线。在样品测试过程中,将所得样品的颜色变化值与曲线中的值比对,从而对未知样品中的铜离子进行定量的选择性分析。该方法可检测10-5M的铜离子浓度,并可有效排除9种离子共存干扰,具有较高的选择性。 | ||
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