专利详情

专利名称	塞贝克系数测量系统
申请号	CN201210213904.3	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103512914A	公开（授权）日	2014.01.15
申请（专利权）人	中国科学院电子学研究所	发明（设计）人	崔大付;蔡浩原;李亚亭;陈兴;张璐璐;孙建海;任艳飞
主分类号	G01N25/20(2006.01)I	IPC主分类号	G01N25/20(2006.01)I
专利有效期	塞贝克系数测量系统至塞贝克系数测量系统	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提供了一种赛贝克系数测量系统，包括：测试样品平台，用于放置待测样品，并在待测样品两端建立预设的温度差，包括：温差加热台，包括温差加热台本体、热端加热柱和冷端加热柱，其中，热端加热柱和冷端加热柱位于温差加热台本体上，两者之间彼此绝热，分别具有各自的加热系统；热端样品放置台和冷端样品放置台，分别位于热端加热柱和冷端加热柱的上方，用于放置待测样品的热端和冷端；信号采集和处理系统，用来计算贝塞尔系数；温度控制系统，用来控制待测样品两端的温度差。本发明的赛贝克系数测量系统可以实现样品的正负温差测量。