专利详情

专利名称	一种激光跟踪仪测量双曲面镜参数的装置及方法
申请号	CN201310492267.2	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103499310A	公开（授权）日	2014.01.08
申请（专利权）人	中国科学院光电技术研究所	发明（设计）人	范斌;闫锋涛;吴永前;侯溪;陈强;万勇建;伍凡
主分类号	G01B11/255(2006.01)I	IPC主分类号	G01B11/255(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I
专利有效期	一种激光跟踪仪测量双曲面镜参数的装置及方法至一种激光跟踪仪测量双曲面镜参数的装置及方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种激光跟踪仪测量双曲面镜参数的装置及方法，包括激光跟踪仪，干涉仪，被测双曲面镜及辅助球面镜，激光跟踪仪配合随机配送靶球测量空间点位置坐标，干涉仪发出的波面经双曲面镜反射后，成为标准的球面波，标准的球面波经过辅助球面镜反射后，光波原路返回，对双曲面镜进行无像差点检测，在干涉仪以对双曲面镜进行无像差点检测的同时，利用激光跟踪仪配合靶球测量出干涉仪焦点空间位置坐标、辅助镜球心位置坐标，双曲面镜顶点坐标，最后通过这些空间位置坐标关系求得双曲面镜参数；本发明对双曲面镜的参数控制及研制提供了一种有效的检测手段，具有较大的应用价值。