一种用于f-θ光学系统畸变的标定装置及方法
- 申请号：CN201310468730.X
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院西安光学精密机械研究所
- 公开(公开)号：CN103499433A
- 公开(公开)日：2014.01.08
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种用于f-θ光学系统畸变的标定装置及方法 | ||
| 申请号 | CN201310468730.X | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN103499433A | 公开（授权）日 | 2014.01.08 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 周艳;赵建科;张洁;徐亮;昌明;刘峰;胡丹丹 |
| 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I;G01M11/04(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种用于f-θ光学系统畸变的标定装置及方法 至一种用于f-θ光学系统畸变的标定装置及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明提出了一种f-θ光学系统的畸变测试装置，测试装置包括依次设置的转台、转台上的导轨、被标定的光学系统物方的目标发生器、被标定光学系统的像方的像分析器。本发明的一种用于f-θ光学系统畸变的标定装置及方法，可同时实现不同物距目标的提供。 | ||
交易流程
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专利 -
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