专利详情

专利名称	基于测静磁力的薄板类铁磁材料中微缺陷的无损检测方法
申请号	CN201310473904.1	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103499636A	公开（授权）日	2014.01.08
申请（专利权）人	中国科学院大学;上海大学	发明（设计）人	王晓东;任忠鸣
主分类号	G01N27/82(2006.01)I	IPC主分类号	G01N27/82(2006.01)I
专利有效期	基于测静磁力的薄板类铁磁材料中微缺陷的无损检测方法至基于测静磁力的薄板类铁磁材料中微缺陷的无损检测方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及一种基于测静磁力的薄板类铁磁材料中微缺陷的无损检测方法，属于无损检测技术领域。首先将永磁体置于标定薄板的表面，使用力传感器测定作用于永磁体上的静磁力的反作用力；其次将永磁体置于待测薄板的表面，再次使用力传感器测定永磁体受到的反作用力；将两个反作用力进行比较，若相同，则确定待测薄板上不存在表面缺陷或内部缺陷，若不相同，则确定待测薄板上存在表面缺陷或内部缺陷。本方法测量过程简单，检测成本相对较低，而且检测结果可靠；测量精度高，可探测到磁性薄板中微米级的微缺陷；检测速度高，可对薄板材料进行在线、快速、实时的检测。