一种双步消逝场耦合的雪崩光电探测器
- 申请号:CN201310406865.3
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
- 公开(公开)号:CN103489953A
- 公开(公开)日:2014.01.01
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种双步消逝场耦合的雪崩光电探测器 | ||
| 申请号 | CN201310406865.3 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN103489953A | 公开(授权)日 | 2014.01.01 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明(设计)人 | 崔荣;杨晓红;李彬;尹伟红;吕倩倩;韩勤 |
| 主分类号 | H01L31/107(2006.01)I | IPC主分类号 | H01L31/107(2006.01)I;H01L31/0232(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种双步消逝场耦合的雪崩光电探测器 至一种双步消逝场耦合的雪崩光电探测器 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明公开了一种双步消逝场耦合的雪崩光电探测器(APD),该雪崩光电探测器包括:衬底;形成于衬底之上的单模传输光波导,用于实现匹配光斑在其中低损耗单模传输,并使光渐渐向上消逝场耦合进入光匹配层;形成于单模传输光波导之上的光匹配层,用于实现光功率从单模传输光波导高效率消逝场耦合到APD吸收层中,并将光限制在APD吸收层中被完全吸收;以及形成于光匹配层之上的APD台面,采用分离吸收电荷倍增区的结构,与波导结构集成可实现高速高响应度的光探测。本发明通过将具有内部增益以及高灵敏度的APD与消逝场耦合的单模波导结构集成,解决了普通探测器光损耗大、灵敏度低、响应度与带宽相互制约以及不利于片上光互连等问题。 | ||
交易流程
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专利 -
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