专利详情

专利名称	一种适用于微通道板探测器的交叉位敏阳极以及探测系统
申请号	CN201320307734.5	专利类型	实用新型
公开（公告）号	CN203367216U	公开（授权）日	2013.12.25
申请（专利权）人	中国科学院西安光学精密机械研究所	发明（设计）人	朱香平;邓国宝
主分类号	H01J40/16(2006.01)I	IPC主分类号	H01J40/16(2006.01)I;H01J40/04(2006.01)I;G01J1/42(2006.01)I
专利有效期	一种适用于微通道板探测器的交叉位敏阳极以及探测系统至一种适用于微通道板探测器的交叉位敏阳极以及探测系统	法律状态
说明书摘要	本实用新型提出一种新的适用于微通道板阳探测器的交叉位敏阳极，并以此作为核心探测部件，给出一种高性能紫外光子计数积分成像探测系统。该交叉位敏阳极，分为上、下两层，上层的各个矩形导电条经绝缘层搭接在下层的各个矩形导电条上；上层的各个矩形导电条在同一平面内相互平行，下层的各个矩形导电条在同一平面内相互平行；所述绝缘层与上层的各个矩形导电条一一对应，且分别位于对应的矩形导电条的投影范围内，在投影方向上，上层与下层的所有矩形导电条整体形成交叉网格，每个矩形导电条独立输出电荷信号。本实用新型能够实现高空间分辨率、高计数率性能，解决电极导通、减少电极串扰以及精确控制绝缘沟道的宽度难题。