一种圆迹合成孔径雷达三维层析成像方法
- 申请号:CN201310431961.3
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院电子学研究所
- 公开(公开)号:CN103454638A
- 公开(公开)日:2013.12.18
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种圆迹合成孔径雷达三维层析成像方法 | ||
| 申请号 | CN201310431961.3 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN103454638A | 公开(授权)日 | 2013.12.18 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明(设计)人 | 林赟;谭维贤;王彦平;洪文;吴一戎 |
| 主分类号 | G01S13/90(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S13/90(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种圆迹合成孔径雷达三维层析成像方法 至一种圆迹合成孔径雷达三维层析成像方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明公开一种圆迹合成孔径雷达三维层析成像方法,步骤S1:将合成孔径雷达回波信号变换到距离压缩后的距离-角度空间域,获得斜平面信号;重复步骤S2-S7:通过距离向重采样将斜平面信号转换为第一地平面信号并作二维傅里叶变换,变换到距离-角度波数域,获得并将第二地平面信号与波数域距离徙动校正函数相乘,获得并对第三地平面信号作方位角维的逆傅里叶变换,获得第四地平面信号;通过二维插值,将第四地平面信号从极坐标域变换到直角坐标域,获得第五地平面信号;对第五地平面信号作二维傅里叶逆变换,获得第六地平面信号,第六地平面信号即为成像平面高度的图像;步骤S8:如果成像平面高度向点数小于成像平面高度索引结束操作。 | ||
交易流程
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专利 -
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可交易 - 03 签订合同
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