一种小孔径高反镜反射率测量方法
- 申请号：CN201310400355.5
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院光电技术研究所
- 公开(公开)号：CN103454074A
- 公开(公开)日：2013.12.18
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种小孔径高反镜反射率测量方法 | ||
| 申请号 | CN201310400355.5 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN103454074A | 公开（授权）日 | 2013.12.18 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 李斌成;祖鸿宇;韩艳玲 |
| 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种小孔径高反镜反射率测量方法 至一种小孔径高反镜反射率测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明涉及一种小孔径高反镜反射率测量方法，将光强周期性调制的连续激光注入稳定初始谐振腔，在适当位置加上一定尺寸的小孔，由探测器探测衰荡信号，得到初始谐振腔内激光的衰荡时间τ0，算出平均反射率R0；同样，在初始光学谐振腔内根据使用角度加入待测高反射镜构成测试光学谐振腔，得到测试腔的衰荡时间τ1，算出待测高反射镜的反射率R1。本发明优点：可以应用光斑尺寸很大的激光光源测量小孔径高反镜反射率，不需要光束整形系统，简化了实验装置。 | ||
交易流程
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专利 -
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