专利详情

专利名称	基于差影法的遥控器按键缺陷检测方法
申请号	CN201310357352.8	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103439348A	公开（授权）日	2013.12.11
申请（专利权）人	中国科学院半导体研究所	发明（设计）人	张敏;鲁华祥;来疆亮;边昳;龚国良;徐露露
主分类号	G01N21/956(2006.01)I	IPC主分类号	G01N21/956(2006.01)I
专利有效期	基于差影法的遥控器按键缺陷检测方法至基于差影法的遥控器按键缺陷检测方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种基于差影法的遥控器按键缺陷检测方法，包括如下步骤：步骤1：制作遥控器标准模板；步骤2：对待检测样品的图像做预处理；步骤3：对标准模板和待检测样品的图像粗配准，得到粗配准区域；步骤4：对标准模板图像进行区域标记，进行二次细配准；步骤5：对标准模板和待检测样品二次细配准后的标记区域分别进行二值化，并作差影计算；步骤6：判断待检测样品是否合格，如果待检测样品有缺陷，定位缺陷位置，如果待检测样品没有缺陷，判断为合格样品，完成检测。本发明的检测方法能有效地分割按键检测出缺陷样品，准确定位缺陷位置。