一种用于子孔径拼接检测的数据采样路径规划方法
- 申请号：CN201310390270.3
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院光电技术研究所
- 公开(公开)号：CN103439090A
- 公开(公开)日：2013.12.11
- 法律状态：实质审查的生效
- 出售价格： 面议 立即咨询
专利详情
| 专利名称 | 一种用于子孔径拼接检测的数据采样路径规划方法 | ||
| 申请号 | CN201310390270.3 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN103439090A | 公开（授权）日 | 2013.12.11 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 汪利华;吴时彬;任戈;景洪伟;谭毅;杨伟 |
| 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种用于子孔径拼接检测的数据采样路径规划方法 至一种用于子孔径拼接检测的数据采样路径规划方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明涉及一种用于子孔径拼接检测的数据采样路径规划方法，属于光学检测技术领域，该方法根据被检光学元件或光学系统口径和检测中的子孔径口径，计算检测所需子孔径个数以及每个子孔径坐标位置，合理安排子孔径采样顺序和运动路径。本发明可以用于子孔径拼接检测技术中，安排子孔径采样顺序和路径，并用于指导拼接时数据处理。 | ||
交易流程
-
01
选取所需
专利 -
02
确认专利
可交易 - 03 签订合同
- 04 上报材料
-
05
确认变更
成功 - 06 支付尾款
- 07 交付证书
过户资料
平台保障
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障
- 用户留言
暂时还没有用户留言