光栅刻划刀调整装置及其方法
- 申请号:CN201310353770.X
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 公开(公开)号:CN103399585A
- 公开(公开)日:2013.11.20
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 光栅刻划刀调整装置及其方法 | ||
| 申请号 | CN201310353770.X | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN103399585A | 公开(授权)日 | 2013.11.20 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明(设计)人 | 唐玉国;于海利;李晓天;杨超;齐向东;巴音贺希格 |
| 主分类号 | G05D3/12(2006.01)I | IPC主分类号 | G05D3/12(2006.01)I;B26D5/06(2006.01)I |
| 专利有效期 | 光栅刻划刀调整装置及其方法 至光栅刻划刀调整装置及其方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 光栅刻划刀调整装置及其方法属于光栅刻划机械自动控制领域,目的在于实现高精度、高性能光栅的刻制。本发明的压电陶瓷设于承载座上,刀架定位安装头与压电陶瓷的输出端连接,刀架位于刀架定位安装头的下方,测量装置固定于承载座,n个封闭力机构设于承载座和刀架定位安装头之间,抬落刀机构安装在刀架定位安装头上,实现刀架的抬起和落下;压电陶瓷和测量装置与数据采集控制模块连接,数据采集控制模块控制压电陶瓷驱动刀架定位安装头产生位移量,调节刀架的运行误差。本发明压电陶瓷执行微定位时的负载质量较轻,提高了动态调节带宽和动态精度,降低了金刚石刻刀相对光栅基底间的误差,实现高精度、高性能光栅的刻制。 | ||
交易流程
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选取所需
专利 -
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可交易 - 03 签订合同
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过户资料
平台保障
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4、专员跟进,交易保障
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