专利详情

专利名称	光电探测器频率响应的测量系统
申请号	CN201310254551.6	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103398736A	公开（授权）日	2013.11.20
申请（专利权）人	中国科学院半导体研究所	发明（设计）人	李明;邓晔;祝宁华;刘建国;刘宇
主分类号	G01D18/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01D18/00(2006.01)I
专利有效期	光电探测器频率响应的测量系统至光电探测器频率响应的测量系统	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种光电探测器频率响应的测量系统，包括：一光脉冲发生器；一可编程光滤波器；一色散光纤；一待测光电探测器；一采样示波器；一计算机。该系统利用光脉冲发生器产生宽谱光脉冲信号，通过滤波整形及色散，实现波形从频域到时域的转换，形成线性啁啾光信号，该光信号包含一系列等幅但频率随时间线性变化的光脉冲，输入待测光电探测器响应后通过采样示波器即可显示出其频率响应。该系统不需要矢量网络分析仪进行频谱扫描，具有成本低、结构简单、测量速度快、测量带宽大等优点。