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一种半导体薄膜生长装置及其生长方法

  • 申请号:CN201310315026.0
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
  • 公开(公开)号:CN103388177A
  • 公开(公开)日:2013.11.13
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种半导体薄膜生长装置及其生长方法
申请号 CN201310315026.0 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103388177A 公开(授权)日 2013.11.13
申请(专利权)人 中国科学院半导体研究所 发明(设计)人 刘兴昉;刘斌;郑柳;董林;刘胜北;闫果果;孙国胜;曾一平
主分类号 C30B25/16(2006.01)I IPC主分类号 C30B25/16(2006.01)I;C30B25/14(2006.01)I;C30B29/64(2006.01)I;C30B29/16(2006.01)I
专利有效期 一种半导体薄膜生长装置及其生长方法 至一种半导体薄膜生长装置及其生长方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种半导体薄膜生长设备及其生长方法,该生长设备适用于化学气相沉积工艺进行半导体薄膜的生长。所述半导体薄膜生长设备,其包括:载气装置、液态源装置、生长室、旁路以及真空系统,这些部件之间通过管道按一定的逻辑关系连结成一个整体;且每条管道可独立的打开或关闭。所述液态源装置包括多个源瓶,安装在一个惰性气体控制柜里,其中源瓶安装在恒温槽里,通过载气鼓泡法将液态源输送至生长室,并在生长室中进行化学反应合成所需半导体薄膜。所述载气直接通过主管道进入生长室,并通过打开或关闭旁路控制生长室气源,以达到控制薄膜生长以及切换过程中平衡生长室压力的目的。

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