专利详情

专利名称	基于哈希表的存储器内建自修复系统及方法
申请号	CN201210138501.7	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103390430A	公开（授权）日	2013.11.13
申请（专利权）人	中国科学院微电子研究所	发明（设计）人	郭旭峰;于芳
主分类号	G11C29/12(2006.01)I	IPC主分类号	G11C29/12(2006.01)I;G11C29/18(2006.01)I
专利有效期	基于哈希表的存储器内建自修复系统及方法至基于哈希表的存储器内建自修复系统及方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种基于哈希表的存储器内建自修复系统，该系统包括内建自修复BIST模块和内建冗余分析BIRA模块，其中：BIST模块，用于对存储器进行测试，将检测到的故障地址暂存在BIST模块中，并向BIRA模块输出故障地址；BIRA模块，用于判断访问地址是否为故障地址，并为故障地址分配冗余资源，进行故障地址重映射，从而完成对存储器的修复。本发明同时公开了一种基于哈希表的存储器内建自修复方法。利用本发明，地址比较效率高，从根本上解决了传统存储器内建自修复方法全搜索地址比较效率低，无法真正修复多故障存储器的缺点，且兼具占用面积小，功耗低的优点。