一种大口径大径厚比反射镜面形自准直检测装置及方法
- 申请号:CN201310036160.7
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院光电技术研究所
- 公开(公开)号:CN103134443A
- 公开(公开)日:2013.06.05
- 法律状态:公开
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专利详情
| 专利名称 | 一种大口径大径厚比反射镜面形自准直检测装置及方法 | ||
| 申请号 | CN201310036160.7 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN103134443A | 公开(授权)日 | 2013.06.05 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明(设计)人 | 曹雷;陈洪斌;邱琪;任戈;亓波;陈兴龙;温正明 |
| 主分类号 | G01B11/24(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/24(2006.01)I;G01B11/26(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种大口径大径厚比反射镜面形自准直检测装置及方法 至一种大口径大径厚比反射镜面形自准直检测装置及方法 | 法律状态 | 公开 |
| 说明书摘要 | 本发明提出了一种大口径大径厚比反射镜面形自准直检测装置,包括光源与聚光镜光轴同轴,聚光镜放置在光源的传播方向,分划板放在光源的像平面处,分光镜放置在分划板之后,光源提供的参考光经分光镜反射后向右传播至转折镜,物镜放置在转折镜之后,物镜和参考光的光轴同轴,参考光入射到被测反射镜后经反射先后经物镜、转折镜、分光镜后向左传播至电耦合器;一维旋转基座承载面形支撑调整机构,被测反射镜位于面形支撑调整机构上,面形支撑调整机构对被测反射镜进行局部调整,用以实现对被测反射镜在水平面内的平移和绕竖直轴的一维旋转,进而实现对被测反射镜的整个面形的扫描测量。本发明还提出一种大口径大径厚比反射镜面形自准直检测方法。 | ||
交易流程
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专利 -
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可交易 - 03 签订合同
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