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宽探测波段的InGaAs/GaAs红外探测器

  • 申请号:CN201310310884.6
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 公开(公开)号:CN103383977A
  • 公开(公开)日:2013.11.06
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 宽探测波段的InGaAs/GaAs红外探测器
申请号 CN201310310884.6 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103383977A 公开(授权)日 2013.11.06
申请(专利权)人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 发明(设计)人 张志伟;缪国庆;宋航;蒋红;黎大兵;孙晓娟;陈一仁;李志明
主分类号 H01L31/105(2006.01)I IPC主分类号 H01L31/105(2006.01)I;H01L31/0304(2006.01)I;H01L31/0352(2006.01)I
专利有效期 宽探测波段的InGaAs/GaAs红外探测器 至宽探测波段的InGaAs/GaAs红外探测器 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种宽探测波段的InGaAs/GaAs红外探测器,属于光电子材料与器件领域,解决了现有InGaAs红外探测器由于晶格失配产生缺陷,导致探测器性能明显下降的问题。本发明的宽探测波段的InGaAs/GaAs红外探测器,包括依次生长在GaAs衬底上的缓冲层、吸收层和盖层,所述缓冲层为掺Si的InAsP,厚度为0.5-1.5μm,所述吸收层为低掺杂Si的In0.82Ga0.18As,厚度为2.5-3.5μm,所述盖层为掺Be的InAlAs,厚度为0.5-1.5μm。本发明的红外探测器具有高量子效率、高探测率,能够满足正面进光、背面进光及倒扣封装结构。

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