一种超灵敏光谱仪以及光谱检测方法
- 申请号:CN201310027659.1
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院空间科学与应用研究中心
- 公开(公开)号:CN103115680A
- 公开(公开)日:2013.05.22
- 法律状态:授权
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专利详情
| 专利名称 | 一种超灵敏光谱仪以及光谱检测方法 | ||
| 申请号 | CN201310027659.1 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN103115680A | 公开(授权)日 | 2013.05.22 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院空间科学与应用研究中心 | 发明(设计)人 | 翟光杰;俞文凯;王超 |
| 主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/28(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种超灵敏光谱仪以及光谱检测方法 至一种超灵敏光谱仪以及光谱检测方法 | 法律状态 | 授权 |
| 说明书摘要 | 本发明涉及一种超灵敏光谱仪,包括光学单元和电学单元;光学单元包括入射狭缝、光准直部件、凹面镜、光栅分光部件、空间光调制器、会聚收光部件;凹面镜包括第一凹面镜,第二凹面镜;电学单元包括随机数发生器、单光子点探测器、计数器、控制模块、数据包存储器以及压缩感知模块;待测极弱光经由入射狭缝入射,然后通过光准直部件和第一凹面镜做扩束和准直,使之成为平行光;平行光照射到光栅分光部件生成光栅反射光场,再经过第二凹面镜反射,在空间光调制器上展开形成光谱带;空间光调制器对光谱带进行随机调制,使得其出射光以一定的随机概率向会聚收光部件发射;会聚收光部件滤除杂散光,将过滤后的光传输到电学单元中的单光子点探测器。 | ||
交易流程
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