专利详情

专利名称	基于光栅剪切成像的安检设备及方法
申请号	CN201310111197.1	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103364839A	公开（授权）日	2013.10.23
申请（专利权）人	中国科学院高能物理研究所	发明（设计）人	朱佩平;黄万霞;张凯;洪友丽;袁清习
主分类号	G01V5/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01V5/00(2006.01)I
专利有效期	基于光栅剪切成像的安检设备及方法至基于光栅剪切成像的安检设备及方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种基于光栅剪切成像的安检设备及方法。该设备包括：用于产生多缝X射线光源的光源装置；具有狭缝的扇形光束产生装置，在X射线光源产生的光束的照射下产生扇形光束，并照射分束光栅；被检物品通道；设于通道一侧的分束光栅，将扇形光束分束为一维光束阵列；分析光栅阵列，产生不同的光强背景，增强或抑制被检物品的折射或散射信号；线阵探测器阵列，贴近分析光栅放置，探测光强的背景和空间位置的变化，在不同光强背景下采集被检物品的投影像。本发明的设备和方法具有被检物品一次通过、同时实现被检物品吸收、折射和散射三种特性的检测，具有简便快速检测多种物质特性的优点，并能够提升对炸药等有机物的探测效率。