专利详情

专利名称	一种连续温度磁性参数测量系统及测量方法
申请号	CN201310229264.X	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103353614A	公开（授权）日	2013.10.16
申请（专利权）人	中国科学院地质与地球物理研究所	发明（设计）人	刘双迟;秦华峰;王华沛;刘青松;朱日祥
主分类号	G01V3/40(2006.01)I	IPC主分类号	G01V3/40(2006.01)I
专利有效期	一种连续温度磁性参数测量系统及测量方法至一种连续温度磁性参数测量系统及测量方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种连续温度磁性参数测量系统及测量方法，测量系统包括：样品腔（1）、计算机（2）、信号测量采集系统（3）、机械传动系统（4）、温控系统（5）、气流输送系统（6）、隔热部分（7）、磁屏蔽装置（8）和磁场控制系统（9），其中信号测量采集系统（3）和机械传动系统（4）两部分协同完成多种磁性参数的测量采集；温控系统（5）与气流输送系统（6）互相协作对样品（10）进行精确温度控制；磁屏蔽装置（8）用于提供一个较低的静磁环境，磁场控制系统（9）在达到预设温度后加载预定磁场，计算机（2）控制系统各个部分协同工作。