磁控溅射设备
- 申请号:CN201310279457.6
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:深圳先进技术研究院;香港中文大学
- 公开(公开)号:CN103343324A
- 公开(公开)日:2013.10.09
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 磁控溅射设备 | ||
| 申请号 | CN201310279457.6 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN103343324A | 公开(授权)日 | 2013.10.09 |
| 申请(专利权)人 | 深圳先进技术研究院;香港中文大学 | 发明(设计)人 | 冯叶;杨春雷;程冠铭;于冰;鲍浪;郭延璐;徐苗苗;肖旭东 |
| 主分类号 | C23C14/35(2006.01)I | IPC主分类号 | C23C14/35(2006.01)I |
| 专利有效期 | 磁控溅射设备 至磁控溅射设备 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 一种磁控溅射设备,包括真空腔壁、连接轴、工作台及导电电极;真空腔壁围成真空腔;所述连接轴的一端连接于所述真空腔壁上;所述工作台收容于所述真空腔中,并设置于所述连接轴的另一端,所述工作台用于固定衬底;所述导电电极穿设所述真空腔壁,其一端与工作台相连接,所述工作台通过所述导电电极与外接电源电连接,所述外接电源通过所述导电电极向所述工作台施加高电势。上述磁控溅射设备中,工作台及衬底均处于高电势的保护之下,飞向衬底的带电正离子会受到相反方向的电场作用力影响,使带电正粒子数量和能量都大幅度减少,减弱了带电正离子对衬底表面的轰击,保护了在衬底表面沉积所得的沉积物,进而使沉积物表面较为平整,晶体质量较好。 | ||
交易流程
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专利 -
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