专利详情

专利名称	一种基于扫描热学显微镜原位表征纳米热电塞贝克系数的装置
申请号	CN201310284525.8	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103344790A	公开（授权）日	2013.10.09
申请（专利权）人	中国科学院上海硅酸盐研究所	发明（设计）人	曾华荣;陈立东;徐琨淇;赵坤宇;李国荣
主分类号	G01Q60/58(2010.01)I	IPC主分类号	G01Q60/58(2010.01)I
专利有效期	一种基于扫描热学显微镜原位表征纳米热电塞贝克系数的装置至一种基于扫描热学显微镜原位表征纳米热电塞贝克系数的装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本申请公开了一种基于扫描热学显微镜原位表征纳米热电塞贝克系数的装置，用于检测一被测纳米热电材料的微区塞贝克系数，所述装置进一步包括：一谐波信号的扫描热学显微镜原位激励平台，和一纳米热电塞贝克系数原位检测平台，其中，所述微区热电塞贝克系数为：其中，S为微区塞贝克系数，V1ω，V2ω，V3ω分别是一倍频谐波信号，纳米热电材料微区二倍频谐波信号和纳米热电材料微区三倍频谐波信号，k是一系数。本申请将扫描热学显微镜纳米检测功能、一维线热源模型、焦耳热效应原理及宏观塞贝克系数测试原理相结合，建立起基于扫描热学显微镜原位表征微区塞贝克系数的新装置。