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一种碳化硅薄膜生长设备及其生长方法

  • 申请号:CN201310315012.9
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
  • 公开(公开)号:CN103343329A
  • 公开(公开)日:2013.10.09
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种碳化硅薄膜生长设备及其生长方法
申请号 CN201310315012.9 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103343329A 公开(授权)日 2013.10.09
申请(专利权)人 中国科学院半导体研究所 发明(设计)人 刘兴昉;刘斌;董林;郑柳;闫果果;张峰;王雷;孙国胜;曾一平
主分类号 C23C16/32(2006.01)I IPC主分类号 C23C16/32(2006.01)I;C23C16/44(2006.01)I;C23C16/455(2006.01)I
专利有效期 一种碳化硅薄膜生长设备及其生长方法 至一种碳化硅薄膜生长设备及其生长方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种碳化硅薄膜生长设备及其生长方法,该生长设备适用于化学气相沉积工艺,包括液态源装置、载气装置、旁路、生长室以及真空系统。所述液态源装置包括四个源瓶:硅源、碳源、N型杂质源和P型杂质源,它们分别安装在独立的恒温槽里,并且整体安装在一个惰性气体控制柜里,其中源瓶通过载气鼓泡法将液态源输送至生长室,并在生长室中进行化学反应合成碳化硅薄膜。所述载气用于稀释以及输运生长源,它直接通过主管道进入生长室。所述旁路可以单独打开或关闭,从而控制生长室气源进而控制薄膜生长;所述与载气装置相连接的旁路输运气量与主管道载气量相当,使所述与液态源装置相连接的旁路在切换过程中不至于影响生长室压力。

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