专利详情

专利名称	方波调制实现空间测角的方法
申请号	CN201310269890.1	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103344199A	公开（授权）日	2013.10.09
申请（专利权）人	中国科学院西安光学精密机械研究所	发明（设计）人	陆卫国;吴易明;肖茂森;李春艳;王海霞
主分类号	G01B11/26(2006.01)I	IPC主分类号	G01B11/26(2006.01)I
专利有效期	方波调制实现空间测角的方法至方波调制实现空间测角的方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提供了一种方波调制实现空间测角的方法，旨在实现高精度、稳定测角。该方法中，线偏振光经过外加的一种具体方波磁光调制信号的磁光玻璃后，成为携带调制信号的调制偏振信号光；调制偏振信号光经过渥拉斯顿棱镜，分为两路偏振方向相互垂直的信号光Io、Ie，分别被两个探测器接收，对接收到的信号输出至信号处理电路，进行特定的优化解算，从而得出渥拉斯顿棱镜光轴与起偏器光轴之间相对初始夹角45°的偏离方位角α。本发明消除了光源波动、两路信号增益差异、调制度mf波动的影响及Wollaston棱镜出射光强非线性的影响，提高了装置实用性，使整个装置具有测角精度高、测角速度快、稳定可靠等特点。