专利详情

专利名称	PZT调制系数测试装置及测试方法
申请号	CN201310257844.X	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103344414A	公开（授权）日	2013.10.09
申请（专利权）人	中国科学院半导体研究所	发明（设计）人	方高升;徐团伟;李芳
主分类号	G01M11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01M11/02(2006.01)I
专利有效期	PZT调制系数测试装置及测试方法至PZT调制系数测试装置及测试方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提供一种PZT调制系数测试装置及测试方法，其中PZT调制系数测试装置，包括：一窄线宽半导体激光器；一光隔离器，其输入端与窄线宽半导体激光器的输出端连接；一迈克尔逊干涉仪，其第一输入端与光隔离器的输出端连接；一光电探测器，其输入端与迈克尔逊干涉仪的输出端连接；一数据采集卡，其第一输入端与光电探测器的输出端连接；一数据处理系统，其输入端与数据采集卡的输出端连接；一载波电路，其第一输出端与迈克尔逊干涉仪的第二输入端连接，第二输出端与数据采集卡的第二输入端连接。本发明其可解决现有光纤激光式传感解调系统中PZT调制系数稳定控制与调节的技术问题。