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双模折反射式共探测器成像系统

  • 申请号:CN201310275716.8
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 公开(公开)号:CN103345051A
  • 公开(公开)日:2013.10.09
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 双模折反射式共探测器成像系统
申请号 CN201310275716.8 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103345051A 公开(授权)日 2013.10.09
申请(专利权)人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 发明(设计)人 付强;张新;史广维;王灵杰;张建萍
主分类号 G02B17/08(2006.01)I IPC主分类号 G02B17/08(2006.01)I
专利有效期 双模折反射式共探测器成像系统 至双模折反射式共探测器成像系统 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 双模折反射式共探测器成像系统属于光学技术领域,该系统包括:主镜、次镜、中继镜组和焦平面探测器;所有部件皆为同光轴放置;其中,主镜和次镜为卡塞格林结构;主镜有中心孔,次镜放置在主镜的前方,中继镜组和焦平面探测器放置在次镜后方;次镜为曼金镜,其前表面反射中波红外,透射长波红外;后表面反射长波红外;次镜两个反射面的设置使得中波红外和长波红外的光程相等,以使得中波红外和长波红外在不调焦的情况下成像在同一焦平面上。该系统可以实现双波段工作,长焦距、大相对孔径成像,结构紧凑,畸变小,传递函数达到或接近衍射极限,冷阑匹配达到100%。

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