四分之一波片相位延迟量的测量装置和测量方法
- 申请号：CN201310250418.3
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院上海光学精密机械研究所
- 公开(公开)号：CN103335821A
- 公开(公开)日：2013.10.02
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 四分之一波片相位延迟量的测量装置和测量方法 | ||
| 申请号 | CN201310250418.3 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN103335821A | 公开（授权）日 | 2013.10.02 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 曾爱军;邓柏寒;刘龙海;朱玲琳;黄惠杰 |
| 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
| 专利有效期 | 四分之一波片相位延迟量的测量装置和测量方法 至四分之一波片相位延迟量的测量装置和测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 一种四分之一波片相位延迟量的测量装置和测量方法，该装置由准直光源、圆起偏器、光弹调制器、圆检偏器、光电探测器、光弹控制器、锁相放大器和计算机组成。本发明只需一个光弹调制器即可测量四分之一波片的相位延迟量，只需要一个锁相放大器，装置简单，结构紧凑，操作方便。 | ||
交易流程
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01
选取所需
专利 -
02
确认专利
可交易 - 03 签订合同
- 04 上报材料
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05
确认变更
成功 - 06 支付尾款
- 07 交付证书
过户资料
平台保障
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障
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