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大口径杂散光测试装置

  • 申请号:CN201320175839.X
  • 专利类型:实用新型
  • 申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所
  • 公开(公开)号:CN203216703U
  • 公开(公开)日:2013.09.25
  • 法律状态:授权
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 大口径杂散光测试装置
申请号 CN201320175839.X 专利类型 实用新型
公开(公告)号 CN203216703U 公开(授权)日 2013.09.25
申请(专利权)人 中国科学院西安光学精密机械研究所 发明(设计)人 徐亮;赵建科;周艳;赛建刚;杨菲;刘峰;胡丹丹
主分类号 G01M11/02(2006.01)I IPC主分类号 G01M11/02(2006.01)I
专利有效期 大口径杂散光测试装置 至大口径杂散光测试装置 法律状态 授权
说明书摘要 本实用新型涉及一种大口径杂散光测试装置,该大口径杂散光测试装置包括目标模拟器、球形平行光管、探测系统以及数据采集与处理系统;目标模拟器设置在球形平行光管的入射光路上;待测光学系统设置在球形平行光管的出射光路上;探测系统设置在待测光学系统的像面处;探测系统与数据采集与处理系统相连。本实用新型提供了一种能够有效的对光学系统结构的杂散光抑制能力进行考核的大口径杂散光测试装置。

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