专利详情

专利名称	一种天线距离向加权比值测高方法及装置
申请号	CN201310076743.2	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103323835A	公开（授权）日	2013.09.25
申请（专利权）人	中国科学院电子学研究所	发明（设计）人	冯锦;许丽颖;陈永强;张圆圆;王宇;赵凤军
主分类号	G01S13/06(2006.01)I	IPC主分类号	G01S13/06(2006.01)I
专利有效期	一种天线距离向加权比值测高方法及装置至一种天线距离向加权比值测高方法及装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种天线距离向加权比值测高方法，包括：利用相控阵单天线分时获取同一场景的两幅图像；确定所述两幅图像的像素比，作为分时天线的距离向加权函数的比；利用所述距离向加权函数的比确定目标视角，根据所述目标视角确定目标高度。本发明还同时公开了一种天线距离向加权比值测高装置，采用本发明，能够以较低的计算量实现对目标物的高度的测量，保证了测高精度，避免了测高精度与配准精度、相位模糊与测高精度冲突的问题。