专利详情

专利名称	一种生成二维相位解缠质量图的方法及装置
申请号	CN201310080570.1	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103325092A	公开（授权）日	2013.09.25
申请（专利权）人	中国科学院电子学研究所	发明（设计）人	柳罡;邓云凯;王宇;李泓宇;陈润璞;邵云峰;袁志辉;李兴林
主分类号	G06T5/00(2006.01)I	IPC主分类号	G06T5/00(2006.01)I
专利有效期	一种生成二维相位解缠质量图的方法及装置至一种生成二维相位解缠质量图的方法及装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种生成二维相位解缠质量图的方法，包括：将缠绕相位数据变换为Ng个灰度等级数据；对变换后的灰度等级数据进行分块，将分块后的每个数据块生成对应的灰度共生矩阵(GLCM)；采用新型的熵差计算模型计算生成的每个数据块对应的所述GLCM的熵差，得到二维相位解缠质量图。本发明同时公开了一种生成二维相位解缠质量图的装置，采用本发明的方法及装置，能生成稳定、有效的质量图，从而能正确地指导二维相位解缠，使得相位解缠结果更加可靠。