专利详情

专利名称	一种基于自适应技术的二维平面采样方法
申请号	CN201310231667.8	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103310447A	公开（授权）日	2013.09.18
申请（专利权）人	中国科学院光电技术研究所	发明（设计）人	王楠;蒋薇;严伟;胡松
主分类号	G06T7/00(2006.01)I	IPC主分类号	G06T7/00(2006.01)I
专利有效期	一种基于自适应技术的二维平面采样方法至一种基于自适应技术的二维平面采样方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及一种基于自适应技术的二维平面采样方法，首先使用均匀的稀疏网格进行一次采样，由评估算法对采样结果进行评价，得到具有不同频率范围的分区域，对各分区域的网格测量点进行替换；然后由新生成的网格对采样物体的表面进行二次采样，再次使用评估算法对测量结果进行评价，根据频率的高低对网格进行修正；如此反复进行修正，直到通过评估算法为止。最后由测量系统根据此测量网格对需采样物体表面进行采样。本发明能保证采样点个数最少，也能保证相同采样点个数情况下，采样效果最佳。