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一种激光测距机的测距精度测试装置及方法

  • 申请号:CN201310221291.2
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
  • 公开(公开)号:CN103308903A
  • 公开(公开)日:2013.09.18
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种激光测距机的测距精度测试装置及方法
申请号 CN201310221291.2 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103308903A 公开(授权)日 2013.09.18
申请(专利权)人 中国科学院半导体研究所 发明(设计)人 杨盈莹;林学春;赵伟芳;王文婷;伊肖静;张玲;于海娟
主分类号 G01S7/497(2006.01)I IPC主分类号 G01S7/497(2006.01)I
专利有效期 一种激光测距机的测距精度测试装置及方法 至一种激光测距机的测距精度测试装置及方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明提供一种激光测距机的测距精度简易测试装置及方法。该装置包括:激光器,用于发射激光束;目标,用于反射所述激光束;距离精度测试装置,由N对反射镜构成,每对反射镜由互相平行的两个反射镜构成,其用于接收被目标所反射后的所述激光束,所述激光束经过所述N对反射镜反射后返回至探测器;探测器,其用于接收由距离精度测试装置返回的激光束;其中,所述N对反射镜之间的距离可调,通过调整反射镜之间的距离改变激光束的光程,进而得到激光测距机的测距精度。该装置结构简单,易便携,测试快捷方便,直接客观,需要的测试空间小、干扰因素少、测量结果精确度高。

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