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一种自对准石墨烯场效应晶体管及其制备方法

  • 申请号:CN201310226455.0
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
  • 公开(公开)号:CN103311276A
  • 公开(公开)日:2013.09.18
  • 法律状态:实质审查的生效
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专利详情

专利名称 一种自对准石墨烯场效应晶体管及其制备方法
申请号 CN201310226455.0 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103311276A 公开(授权)日 2013.09.18
申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所 发明(设计)人 金智;彭松昂;麻芃;张大勇;史敬元;陈娇
主分类号 H01L29/16(2006.01)I IPC主分类号 H01L29/16(2006.01)I;H01L29/772(2006.01)I;H01L21/32(2006.01)I;H01L21/335(2006.01)I
专利有效期 一种自对准石墨烯场效应晶体管及其制备方法 至一种自对准石墨烯场效应晶体管及其制备方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种自对准石墨烯场效应晶体管及其制备方法,该自对准石墨烯场效应晶体管包括半导体衬底、绝缘层、导电通道、源电极、漏电极、栅介质层、栅金属和自对准金属,其中,绝缘层形成于半导体衬底上,导电沟道形成于绝缘体上,导电沟道由石墨烯构成,源电极和漏电极分别形成于导电通道的两侧,栅介质层选择性沉积在源电极和漏电极之间的导电沟道上,栅金属形成于栅介质层之上,栅介质层与栅金属同时图形化堆砌在一起形成栅堆积层,对沟道区载流子浓度进行调控;自对准金属层覆盖源电极、漏电极、导电通道以及栅金属之上,减小未被栅条覆盖区域面积,实现器件栅与源漏的自对准。

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