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一种功率MOSFET器件串联电感的测试电路

  • 申请号:CN201310219744.8
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
  • 公开(公开)号:CN103293390A
  • 公开(公开)日:2013.09.11
  • 法律状态:专利申请权、专利权的转移
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种功率MOSFET器件串联电感的测试电路
申请号 CN201310219744.8 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103293390A 公开(授权)日 2013.09.11
申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所 发明(设计)人 温景超;王立新
主分类号 G01R27/26(2006.01)I IPC主分类号 G01R27/26(2006.01)I
专利有效期 一种功率MOSFET器件串联电感的测试电路 至一种功率MOSFET器件串联电感的测试电路 法律状态 专利申请权、专利权的转移
说明书摘要 本发明公开了一种功率MOSFET器件串联电感的测试电路,属于半导体器件测试技术领域。所述测试电路包括脉冲发生器、相位显示器、LCR表、电阻和选通开关;脉冲发生器的信号端与栅极电连接;脉冲发生器的接地端通过串联电阻与选通开关的固定端电连接;选通开关的两个选择端分别与源极和漏极电连接;脉冲发生器的接地端接地;LCR表的一端与栅极电连接,另一端与选通开关的固定端电连接;相位显示器电流输入端与栅极电连接,电压输入端与选通开关的固定端电连接。本发明不仅可以为评估器件的性能提供重要参数指标,而且对于优化功率MOSFET器件设计、提高器件的开关特性都具有重大意义。

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