一种检测光伏型碲镉汞红外探测器电极质量的方法
- 申请号:CN201310191038.7
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:上海电力学院;中国科学院上海技术物理研究所
- 公开(公开)号:CN103267939A
- 公开(公开)日:2013.08.28
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种检测光伏型碲镉汞红外探测器电极质量的方法 | ||
| 申请号 | CN201310191038.7 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN103267939A | 公开(授权)日 | 2013.08.28 |
| 申请(专利权)人 | 上海电力学院;中国科学院上海技术物理研究所 | 发明(设计)人 | 崔昊杨;李志锋;许永鹏;曾俊冬;唐忠;杨俊杰;汤乃云;朱武;陈琳 |
| 主分类号 | G01R31/26(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/26(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种检测光伏型碲镉汞红外探测器电极质量的方法 至一种检测光伏型碲镉汞红外探测器电极质量的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明涉及一种检测光伏型碲镉汞红外探测器电极质量的方法,采用超快脉冲激光照射光伏型碲镉汞薄膜探测器,探测器输出信号呈现脉冲形式的光伏响应信号,数字存储示波器采集并储存光伏信号,探测器光伏响应信号为一个峰值时,为欧姆电极;当探测器光伏响应信号存在两个峰值时,判断电极界面存在肖特基接触,第一个光伏峰值由电极界面肖特基接触形成,第二个光伏峰值由pn结形成,分别计算肖特基接触形成和pn结形成的脉冲光伏的峰值,判断电极质量。是一种方便、快速、无损伤的鉴别方法,适合于衡量器件的实际性能,对于研究碲镉汞的界面效应,发展有关碲镉汞界面的理论,以及指导人们探索新型器件都有着十分重要的意义。 | ||
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