专利详情

专利名称	用于检测超导带材的绝缘层的绝缘性能的检测设备
申请号	CN201110412664.5	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102520321A	公开（授权）日	2012.06.27
申请（专利权）人	中国科学院电工研究所	发明（设计）人	许熙;滕玉平;张志丰;戴少涛
主分类号	G01R31/12(2006.01)I	IPC主分类号	G01R31/12(2006.01)I
专利有效期	用于检测超导带材的绝缘层的绝缘性能的检测设备至用于检测超导带材的绝缘层的绝缘性能的检测设备	法律状态	公开
说明书摘要	本发明公开一种用于检测超导带材的绝缘层的绝缘性能的检测设备，包括：液氮容器；放带盘；第一电机，用于驱动放带盘旋转；电极组件；第一定滑轮，从放带盘出来的超导带材经过第一定滑轮，并向电极组件输送；第二定滑轮，从电极组件出来的超导带材经过第二定滑轮；收带盘，从第二定滑轮出来的超导带材卷绕到收带盘上；及第二电机，用于驱动收带盘旋转，其中超导带本体与接地系统连接以便具备接地电位，并且控制器控制第一电机和第二电机以预定速度旋转，使得超导带材在液氮容器内的液氮中、以恒定速度通过电极组件，从而对超导带材的绝缘层的绝缘性能进行连续检测。本发明检测设备能极大地提高超导带材绝缘性能的检测效率和速度。