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一种光电跟踪系统的仿真测试方法和装置

  • 申请号:CN201310137967.X
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院光电技术研究所
  • 公开(公开)号:CN103235545A
  • 公开(公开)日:2013.08.07
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种光电跟踪系统的仿真测试方法和装置
申请号 CN201310137967.X 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103235545A 公开(授权)日 2013.08.07
申请(专利权)人 中国科学院光电技术研究所 发明(设计)人 熊帅;付承毓;包启亮;刘子栋;唐涛
主分类号 G05B19/048(2006.01)I IPC主分类号 G05B19/048(2006.01)I
专利有效期 一种光电跟踪系统的仿真测试方法和装置 至一种光电跟踪系统的仿真测试方法和装置 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明一种光电跟踪系统的仿真测试方法及装置,通过代码自动生成环境,由跟踪控制算法的Simulink模型生成实现该算法的C代码,并下载到光电跟踪系统的控制器中;在视景仿真计算机进行光电跟踪系统的虚拟场景仿真,实时渲染出需求的虚拟场景;视景仿真计算机将虚拟场景中的目标脱靶量信息传送给控制器,控制器根据脱靶量信息驱动光电跟踪系统执行机构对虚拟场景中的目标跟踪,并将光电跟踪系统的视轴姿态返回视景仿真计算机,视景仿真计算机根据光电跟踪系统的视轴姿态更新虚拟场景中观察点的姿态并产生新的目标脱靶量信息,重复以上过程仿真出光电跟踪系统的跟踪过程,所得跟踪数据用来对跟踪控制算法进行测试、分析与设计。

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