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一种在GaAs衬底上外延生长InAs/GaSb二类超晶格的方法

  • 申请号:CN201310135986.9
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
  • 公开(公开)号:CN103233271A
  • 公开(公开)日:2013.08.07
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种在GaAs衬底上外延生长InAs/GaSb二类超晶格的方法
申请号 CN201310135986.9 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103233271A 公开(授权)日 2013.08.07
申请(专利权)人 中国科学院半导体研究所 发明(设计)人 郭晓璐;马文全;张艳华
主分类号 C30B29/68(2006.01)I IPC主分类号 C30B29/68(2006.01)I;C30B19/00(2006.01)I;H01L31/101(2006.01)I
专利有效期 一种在GaAs衬底上外延生长InAs/GaSb二类超晶格的方法 至一种在GaAs衬底上外延生长InAs/GaSb二类超晶格的方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种在GaAs衬底上外延生长InAs/GaSb二类超晶格的方法,包括步骤S1:在半绝缘GaAs衬底上外延生长GaAs缓冲层;步骤S2:在所述GaAs缓冲层上外延生长GaSb缓冲层;步骤S3:在所述GaSb缓冲层上外延生长InAs/GaSb超晶格结构。本发明在所述生长过程中通过控制As、Sb束流比以及InSb界面层的厚度以实现较好的材料质量。本发明通过控制InAs层和GaSb层的厚度比例关系可以实现在不同红外波段的响应,并进一步可以制作多种波段的红外探测器器件。

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