一种量子产率的测试方法
- 申请号:CN201310120635.0
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:深圳先进技术研究院
- 公开(公开)号:CN103226100A
- 公开(公开)日:2013.07.31
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种量子产率的测试方法 | ||
| 申请号 | CN201310120635.0 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN103226100A | 公开(授权)日 | 2013.07.31 |
| 申请(专利权)人 | 深圳先进技术研究院 | 发明(设计)人 | 张春阳;胡娟 |
| 主分类号 | G01N21/64(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/64(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种量子产率的测试方法 至一种量子产率的测试方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 公开了一种量子产率的测试方法,用于测试待测样品的量子产率Q,包括:提供量子产率为Qr的参比样品;提供折射率为nr的第一溶剂和折射率为n的第二溶剂,获得参比样品溶液/胶体和待测样品溶液/胶体;获得参比样品溶液/胶体的吸光度Ar,和待测样品溶液/胶体的吸光度A;制备稀释因子为Tr的参比样品稀释液,和稀释因子为T的待测样品稀释液;获得参比样品稀释液的荧光图像的分子或粒子个数Nr和单个分子或粒子的荧光强度Ir,和待测样品稀释液的荧光图像的分子或粒子个数N和单个分子或粒子的荧光强度I;计算单分子水平下的量子产率该测试方法简单,测量准确性较高,为量子产率计算提供了理论方法。 | ||
交易流程
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