一种SAR图像仿真过程中方位向聚焦位置的计算方法
- 申请号:CN201310100914.0
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院电子学研究所
- 公开(公开)号:CN103217686A
- 公开(公开)日:2013.07.24
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种SAR图像仿真过程中方位向聚焦位置的计算方法 | ||
| 申请号 | CN201310100914.0 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN103217686A | 公开(授权)日 | 2013.07.24 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明(设计)人 | 张月婷;仇晓兰;丁赤飚;胡玉新;雷斌;付琨 |
| 主分类号 | G01S13/90(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S13/90(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种SAR图像仿真过程中方位向聚焦位置的计算方法 至一种SAR图像仿真过程中方位向聚焦位置的计算方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明提供了一种SAR图像仿真过程中方位向聚焦位置的计算方法,能有效的表达合成孔径因素对方位向聚焦位置的影响,使得仿真图像中由于合成孔径产生的SAR图像特征充分表现出来。第一步,确定初始等相位面和射线起点:在目标近雷达一侧,根据雷达波束入射的方向选定初始等相位平面,并在该平面上确定射线起点坐标;第二步,计算目标坐标系下射线起点的坐标,根据坐标变换矩阵T;第三步,射线循迹,根据第二步的射线起点坐标,根据射线理论计算射线在等相位面的出射点B的位置;第四步,计算该条射线的近似方位向聚焦位置。 | ||
交易流程
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