一种提高自适应光学系统传递矩阵测量精度的方法
- 申请号：CN201310095509.4
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院光电技术研究所
- 公开(公开)号：CN103217223A
- 公开(公开)日：2013.07.24
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种提高自适应光学系统传递矩阵测量精度的方法 | ||
| 申请号 | CN201310095509.4 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN103217223A | 公开（授权）日 | 2013.07.24 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 郭友明;饶长辉;鲍华;张昂;魏凯 |
| 主分类号 | G01J9/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J9/00(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种提高自适应光学系统传递矩阵测量精度的方法 至一种提高自适应光学系统传递矩阵测量精度的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明涉及一种提高自适应光学系统传递矩阵测量精度的方法，其特点是：在测量自适应光学系统传递矩阵过程中，向变形镜驱动器施加的电压包含信号电压与补偿电压两部分；其中，补偿电压用来对自适应光学系统的静态像差进行预校正。本发明有效地解决了自适应光学系统传递矩阵测量受到静态像差制约的状况，进一步提高了传递矩阵的测量精度。 | ||
交易流程
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专利 -
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可交易 - 03 签订合同
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