一种掺氮二氧化钛薄膜的制备方法
- 申请号:CN201210007712.7
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
- 公开(公开)号:CN103205730A
- 公开(公开)日:2013.07.17
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种掺氮二氧化钛薄膜的制备方法 | ||
| 申请号 | CN201210007712.7 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN103205730A | 公开(授权)日 | 2013.07.17 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明(设计)人 | 夏洋;饶志鹏;万军;李超波;陈波;刘键;江莹冰;石莎莉;李勇滔 |
| 主分类号 | C23C16/40(2006.01)I | IPC主分类号 | C23C16/40(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种掺氮二氧化钛薄膜的制备方法 至一种掺氮二氧化钛薄膜的制备方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明涉及二氧化钛制备的技术领域,具体涉及一种掺氮二氧化钛薄膜的制备方法。所述制备方法,包括如下步骤:将硅衬底放置于原子层沉积设备反应腔中;以氮气为载气向原子层沉积设备反应腔中通入含钛源气体,含钛源气体中的钛原子吸附在硅衬底上;向原子层沉积设备反应腔中通入氮气,同时进行等离子体放电,氮气电离后部分氮原子与部分钛原子形成共价键;向原子层沉积设备反应腔中通入含氧源,未与氮原子反应的钛原子与含氧源中的氧原子形成钛氧键;重复上述步骤即可逐层生长含氮原子的二氧化钛薄膜。本发明利用ALD设备对二氧化钛薄膜进行氮掺杂,能够实现均匀的在整个结构中掺氮,且掺杂后氮元素含量高,性能显著增加。 | ||
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