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一种采用非对准键合工艺来制作TSV的电镀方法

  • 申请号:CN201210006294.X
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
  • 公开(公开)号:CN103199026A
  • 公开(公开)日:2013.07.10
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种采用非对准键合工艺来制作TSV的电镀方法
申请号 CN201210006294.X 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103199026A 公开(授权)日 2013.07.10
申请(专利权)人 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 发明(设计)人 陈骁;罗乐;汤佳杰;徐高卫
主分类号 H01L21/60(2006.01)I IPC主分类号 H01L21/60(2006.01)I;C25D7/12(2006.01)I
专利有效期 一种采用非对准键合工艺来制作TSV的电镀方法 至一种采用非对准键合工艺来制作TSV的电镀方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明涉及一种采用非对准键合工艺来制作TSV的电镀方法,其特征是利用晶圆带有两条平行切边的特点,将TSV晶圆与支撑晶圆带有金层的面相对、圆心重合但晶圆不重合后进行Au-Au键合。键合后用铜导电胶带与电镀引线夹具连接实现TSV电镀填充。其工艺步骤为:在已刻蚀出TSV的TSV晶圆的背面和裸支撑晶圆的一面上分别先后溅射一层TiW和Au层;将TSV晶圆的Au层面与裸支撑晶圆的Au层面相对并且完全重合,然后将其中一片晶圆以圆心为中心旋转90度,另一片不动,然后在保证圆心重合后升温加压进行Au-Au键合。然后用铜导电胶带分别贴住露出的四个切边部位的种子层,引到键合晶圆的正面,电镀引线夹具导电胶带接触实现TSV电镀填充,并将导电胶带撕掉去除。

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