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一种具有DBR高反射结构的紫外发光二极管及其制备方法

  • 申请号:CN201310118141.9
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
  • 公开(公开)号:CN103199164A
  • 公开(公开)日:2013.07.10
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种具有DBR高反射结构的紫外发光二极管及其制备方法
申请号 CN201310118141.9 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103199164A 公开(授权)日 2013.07.10
申请(专利权)人 中国科学院半导体研究所 发明(设计)人 曾建平;闫建昌;王军喜;丛培沛;孙莉莉;董鹏;李晋闽
主分类号 H01L33/10(2010.01)I IPC主分类号 H01L33/10(2010.01)I;H01L33/00(2010.01)I
专利有效期 一种具有DBR高反射结构的紫外发光二极管及其制备方法 至一种具有DBR高反射结构的紫外发光二极管及其制备方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种AlGaN基DBR高反射紫外发光二极管及制作方法。该紫外发光二极管依次包括:衬底、AlN成核层、n型AlGaN势垒层、有源区、p型AlGaN势垒层和p型GaN冒层;其中,所述p型AlGaN势垒层上制作有DBR高反射结构。本发明提出的紫外发光二极管中被p型GaN冒层吸收的光线经过所述DBR高反射结构反射后,由底部发出,极大的提高了出射光的功率和效率。本发明提出的上述其外发光二极管器件及其制作方法工艺简单,重复性好,可靠性高,可用于空气/水净化,医疗,生物医学,白光照明以及空间通信等领域。

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