一种用于原子层沉积设备的气体分配器
- 申请号:CN201210002317.X
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
- 公开(公开)号:CN103194737A
- 公开(公开)日:2013.07.10
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种用于原子层沉积设备的气体分配器 | ||
| 申请号 | CN201210002317.X | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开(公告)号 | CN103194737A | 公开(授权)日 | 2013.07.10 |
| 申请(专利权)人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明(设计)人 | 张艳清;夏洋;李超波;万军;吕树玲;陈波;石莎莉;李楠 |
| 主分类号 | C23C16/455(2006.01)I | IPC主分类号 | C23C16/455(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种用于原子层沉积设备的气体分配器 至一种用于原子层沉积设备的气体分配器 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明涉及原子层沉积设备技术领域,具体涉及一种用于原子层沉积设备的气体分配器。所述用于原子层沉积设备的气体分配器,所述气体分配器设置在原子层沉积设备的反应腔室内,位于所述反应腔室内基片台的上方;所述气体分配器为环型或U型的气路管道,所述气路管道上设有一个进气口和若干个出气口;所述进气口与所述反应腔室的进气管道相连通,所述出气口均匀分布在所述气路管道的内外两侧,所述出气口的出气方向与垂直方向形成倾斜角度。本发明具备结构简单,易于加工,成本低廉的优点,在满足ALD沉积方式的同时,能够实现前躯体完整地覆盖样品表面,可以很好地提高薄膜均匀性。 | ||
交易流程
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